Oblea solar monocristalina cuadrada completa tipo P

Oblea solar monocristalina cuadrada completa tipo P

Una metodología es seguir la ruta de aumentar el ancho a través de la oblea monocristalina de 125 mm a 156 mm y aumentar el tamaño del módulo, como una oblea monocristalina pseudo-cuadrada de 158,75 mm o una oblea monocristalina cuadrada completa (diámetro de oblea 223 mm). La oblea monocristalina cuadrada completa de 158,75 mm (diámetro de la oblea 223 mm) aumenta el área de la oblea en aproximadamente un 3,1% en comparación con el formato M2, que aumenta la potencia de un módulo de 60 celdas en casi 10 Wp.
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Detalles


158.75mm Full Square Monocrystalline Solar Wafer 2


P type monocrystalline wafer 1


P type monocrystalline wafer 2


Una metodología es seguir la ruta de aumentar el ancho a través de la oblea monocristalina de 125 mm a 156 mm y aumentar el tamaño del módulo, como un pseudo cuadrado de 158,75 mm.monocristalinooblea o cuadrado completomonocristalinooblea (diámetro de oblea 223 mm). los158,75 mmplaza llenamonocristalinola obleadiámetro de la oblea 223mm) aumenta el área de la oblea en aproximadamente un 3,1% en comparación con el formato M2, que aumenta la potencia de un módulo de 60 celdas en casi 10 Wp.


1 Propiedades materiales

Propiedad

Especificación

Método de inspección

Método de crecimiento

CZ


Cristalinidad

Monocristalino

Técnicas de grabado preferencialesASTM F47-88

Tipo de conductividad

Tipo P

Napson EC-80TPN

P/N

Dopante

Boro, Galio

-

Concentración de oxígeno [Oi]

≦8E+17 a / cm3

FTIR (ASTM F121-83)

Concentración de carbono [Cs]

5E+16 a / cm3

FTIR (ASTM F123-91)

Densidad del pozo de grabado (densidad de dislocación)

500 cm-3

Técnicas de grabado preferencialesASTM F47-88

Orientación superficial

GG lt; 100> ± 3 °

Método de difracción de rayos X (ASTM F26-1987)

Orientación de lados pseudocuadrados

GG lt; 010> ;,< 001=""> ± 3 °

Método de difracción de rayos X (ASTM F26-1987)

2 Propiedades electricas

Propiedad

Especificación

Método de inspección

Resistividad

0,5-1,5 Ωcm

Sistema de inspección de obleas

MCLT (portador minoritario de por vida)

50 μs

Sinton BCT-400

(con nivel de inyección: 1E15 cm-3)

3Geometría



Propiedad

Especificación

Método de inspección

Geometría

Cuadrado completo


Longitud del lado de la oblea

158,75 ± 0,25 milímetros

sistema de inspección de obleas

Diámetro de la oblea

φ223 ± 0,25 mm

sistema de inspección de obleas

Ángulo entre lados adyacentes

90° ± 0.2°

sistema de inspección de obleas

Grosor

18020/10 µm;

17020/10 µm

sistema de inspección de obleas

TTV (variación de espesor total)

27 µm

sistema de inspección de obleas



image

4 Propiedades de la superficie

Propiedad

Especificación

Método de inspección

Método de corte

DW

--

Calidad de la superficie

como cortado y limpiado, sin contaminación visible (aceite o grasa, huellas dactilares, manchas de jabón, manchas de lechada, manchas de epoxi / pegamento no están permitidas)

sistema de inspección de obleas

Marcas de sierra / pasos

≤ 15µm

sistema de inspección de obleas

Arco

≤ 40 µm

sistema de inspección de obleas

Deformación

≤ 40 µm

sistema de inspección de obleas

Chip

profundidad ≤0,3 mm y longitud ≤ 0,5 mm Max 2 / pcs; sin V-chip

Sistema de inspección de ojos desnudos o obleas

Micro grietas / agujeros

No permitido

sistema de inspección de obleas




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