Oblea solar monocristalina tipo 158.75 mm N

Oblea solar monocristalina tipo 158.75 mm N

Para las obleas mono-Si, el cuadrado completo de 158.75 mm se convertirá en el diseño más adoptado para la segunda mitad del año. Solo unos pocos fabricantes usan obleas que son más grandes que esto. Las celdas LG y Hanwha Q, por ejemplo, usan obleas M4 (161.7 mm), mientras que Longi está promocionando obleas de 166 mm. Las modernas obleas mono cuadrado completas han maximizado la exposición a la luz al mismo nivel de obleas múltiples al expandir la medida cuadrada. Las obleas son siempre completamente cuadradas para que se ajusten al módulo fotovoltaico de manera óptima.
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Detalles

Crecimiento de cristal de silicio CZ


Oblea solar monocristalina cuadrada completa de 158.75 mm


Para las obleas mono-Si, el cuadrado completo de 158.75 mm se convertirá en el diseño más adoptado para la segunda mitad del año. Solo unos pocos fabricantes usan obleas que son más grandes que esto. Las celdas LG y Hanwha Q, por ejemplo, usan obleas M4 (161.7 mm), mientras que Longi está promocionando obleas de 166 mm.

Las modernas obleas mono cuadrado completas han maximizado la exposición a la luz al mismo nivel de obleas múltiples al expandir la medida cuadrada. Las obleas son siempre completamente cuadradas para que se ajusten al módulo fotovoltaico de manera óptima.

 

1       Propiedades materiales

 

Propiedad

Especificación

Método de inspección

Método de crecimiento

CZ


Cristalinidad

Monocristalinos

Técnicas de grabado preferencial ASTM F47-88

Tipo de conductividad

Tipo N

Napson EC-80TPN

Dopante

Fósforo

-

Concentración de oxígeno [Oi]

8E + 17 en / cm 3

FTIR (ASTM F121-83)

Concentración de carbono [Cs]

5E + 16 at / cm 3

FTIR (ASTM F123-91)

Densidad del pozo de grabado (densidad de dislocación)

500 cm -3

Técnicas de grabado preferencial ASTM F47-88

Orientación de la superficie

<100> ± 3 °

Método de difracción de rayos X (ASTM F26-1987)

Orientación de pseudo lados cuadrados

<010>, <001> ± 3 °

Método de difracción de rayos X (ASTM F26-1987)

 

2       Propiedades electricas

 

Propiedad

Especificación

Método de inspección

Resistividad

0.3-2.1 Ω.cm

1.0-7.0 Ω.cm

Sistema de inspección de obleas

MCLT (duración del operador minoritario)

≧ 1000 μs (resistividad 0.3-2.1 Ω.cm)
≧ 500 μs ( resistividad 1.0-7.0 Ω.cm)

Sinton transitorio

 

3       Geometría

 


Propiedad

Especificación

Método de inspección

Geometría

Plaza completa


Longitud del lado de la oblea

158,75 ± 0,25 mm

sistema de inspección de obleas

Diámetro de la oblea

φ223 ± 0.25 mm

sistema de inspección de obleas

Ángulo entre lados adyacentes

90 ° ± 0.2 °

sistema de inspección de obleas

Grosor

180 20 / - 10 µm;

170 20 / - 10 µm

sistema de inspección de obleas

TTV (variación de espesor total)

27 µm

sistema de inspección de obleas



imagen



4 4        Propiedades de la superficie


Propiedad

Especificación

Método de inspección

Método de corte

DW

-

Calidad de la superficie

tal como se cortan y limpian, no hay contaminación visible (no se permiten aceite o grasa, huellas dactilares, manchas de jabón, manchas de lechada, manchas de epoxi / pegamento)

sistema de inspección de obleas

Vio marcas / pasos

≤ 15µm

sistema de inspección de obleas

Arco

≤ 40 µm

sistema de inspección de obleas

Deformación

≤ 40 µm

sistema de inspección de obleas

Chip

profundidad ≤0.3mm y longitud ≤ 0.5mm Max 2 / pcs; sin chip V

Ojos desnudos o sistema de inspección de obleas

Micro grietas / agujeros

No permitido

sistema de inspección de obleas




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Consulta

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