Superficie de silicio negro tipo P oblea solar policristalina que incluye 166 mm * 166 mm

El grabado químico asistido por metal (MACE) es un método de grabado húmedo anisotrópico recientemente desarrollado que es capaz de producir nanoestructuras semiconductoras de alta relación de aspecto a partir de una película de metal con dibujos.
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Detalles

P oblea de silicio negro tipo 7 7


Oblea de silicio tipo P negra en cascada 3


El grabado químico asistido por metal (MACE) es un método de grabado húmedo anisotrópico recientemente desarrollado que es capaz de producir nanoestructuras semiconductoras de alta relación de aspecto a partir de una película de metal con dibujos.

 

En un modelo bien aceptado que describe el proceso MACE, se prefiere que el oxidante se reduzca en la superficie del catalizador metálico , y los agujeros (h +) se inyectan desde el catalizador metálico a Si o los electrones (e-) se transfieren desde el catalizador Si al metal. Si el catalizador metálico debajo de la base tiene la máxima concentración de orificios , por lo tanto, la oxidación y la disolución del Si ocurren preferentemente debajo del catalizador metálico.

 

Se encuentra que la eficiencia de conversión de energía solar se incrementa cuando los SiNW con una alta relación de aspecto se emplean en la superficie de irradiación de luz slar.

 

 

1       Condición de la superficie

 

Parámetro

Proceso

Reflectancia

Lado delantero

Condición de la superficie

Grabado químico con metal asistido

Bajo

Reverso

Condición de la superficie

Pulido o texturizado

Alto o bajo

  

2       Propiedades materiales

 

Propiedad

Especificación

Método de inspección

Método de crecimiento

solidificación direccional

XRD

Cristalinidad

policristalino

Técnicas de grabado preferenciales ASTM F47-88

Tipo de conductividad

Tipo p

Napson EC-80TPN

P / N

Dopante

Boro

-

Concentración de oxígeno [Oi]

1E + 17 a / cm 3

FTIR (ASTM F121-83)

Concentración de carbono [Cs]

1E + 18 a / cm 3

FTIR (ASTM F123-91)

 

3       Propiedades electricas

 

Propiedad

Especificación

Método de inspección

Resistividad

0.5-2 Ωcm (Después de recocido)

Sistema de inspección de obleas

MCLT (vida de portador minoritario)

2 μs

Sinton QSSPC

 

4       Geometría

 

Propiedad

Especificación

Método de inspección

Geometría

Cuadrado o rectángulo

Sistema de inspección de obleas

Forma de borde biselado

Línea

Sistema de inspección de obleas

Tamaño de la oblea

(Longitud lateral * Longitud lateral)

156mm * 156mm

157mm * 186mm

166mm * 166mm

Sistema de inspección de obleas

Ángulo entre lados adyacentes

90 ± 3 °

Sistema de inspección de obleas

 


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