Oblea de 12 pulgadas (300 mm)

Amplio stock de obleas de doble cara pulidas en todos los diámetros de obleas que van desde 100 mm a 300 mm. Si su especificación no está disponible en nuestro inventario, hemos establecido relaciones a largo plazo con numerosos proveedores que son capaces de fabricar obleas personalizadas para adaptarse a cualquier especificación única. Las obleas pulidas a doble cara están disponibles en silicona, vidrio y otros materiales comúnmente utilizados en la industria de los semiconductores. Los dados y pulidos personalizados también están disponibles de acuerdo con sus requisitos. Siéntete libre de contactarnos.
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Detalles

【Introducción del producto】

Oblea pulida de 12 pulgadas (300 mm) DSC01251 730


12 inch(300mm) Polished Wafer DSC01700 730


PROPIEDADES MATERIALES

Parámetro

Característica

Método de control ASTM

Tipo / Dopante

P, boro N, fósforo N, antimonio N, arsénico

F42

Orientaciones

<100>, <111> corte las orientaciones según las especificaciones del cliente

F26

Contenido de oxígeno

10 19 ppmA Tolerancias personalizadas por especificación del cliente

F121

Contenido de carbon

<0.6>

F123

Rangos de resistividad: P, Boron, N, Fósforo, N, Antimonio, Arsénico

0.001 - 50 ohm cm
0,1 - 40 ohm cm
0.005 - 0.025 ohm cm
<0.005 ohm="">

F84


PROPIEDADES MECÁNICAS

Parámetro

principal

Monitor / Prueba A

Prueba

Método ASTM

Diámetro

300 ± 0.2 mm

300 ± 0.2 mm

300 ± 0.5 mm

F613

Espesor

775 ± 20 µm (estándar)

775 ± 25 µm (estándar) 450 ± 25 µm 625 ± 25 µm 1000 ± 25 µm 1300 ± 25 µm 1500 ± 25 µm

775 ± 50 µm (estándar)

F533

TTV

<5>

<10>

<15>

F657

Arco

<30>

<30>

<50>

F657

Envolver

<30>

<30>

<50>

F657

Redondeo de bordes

SEMI-ETS

F928

Calificación

Primario solo SEMI-Flat, SEMI-STD Flats Jeida Flat, Notch

F26, F671


CALIDAD DE LA SUPERFICIE

Parámetro

principal

Monitor / Prueba A

Prueba

Método ASTM

Criterios Delanteros

Condición de la superficie

Químico Mecánico Pulido

Químico Mecánico Pulido

Químico Mecánico Pulido

F523

Rugosidad de la superficie

<2 a="">

<2 a="">

<2 a="">


Contaminación, Partículas @> 0.3 µm

= 20

= 20

= 30

F523

Neblina, Hoyos, Cáscara De Naranja

Ninguna

Ninguna

Ninguna

F523

Marcas de sierra, estriaciones.

Ninguna

Ninguna

Ninguna

F523

Criterios del Lado Trasero

Grietas, pieles, marcas de sierra, manchas.

Ninguna

Ninguna

Ninguna

F523

Condición de la superficie

Grabado cáustico

F523

 

Descripción del producto

Perfecto para aplicaciones de microfluidos. Para aplicaciones de microelectrónica o MEMS, contáctenos para obtener especificaciones detalladas.

 

Si bien los dispositivos semiconductores continúan reduciéndose, cada vez es más importante que las obleas tengan una alta calidad de superficie tanto en su parte frontal como posterior. Actualmente, estas obleas son más comunes en los sistemas microelectromecánicos (MEMS), la unión de obleas, la fabricación de silicona en el aislante (SOI) y las aplicaciones con requisitos de planitud ajustados. Microelectronics reconoce la evolución de la industria de los semiconductores y se compromete a encontrar soluciones a largo plazo para todos los requisitos de los clientes.

Amplio stock de obleas de doble cara pulidas en todos los diámetros de obleas que van desde 100 mm a 300 mm. Si su especificación no está disponible en nuestro inventario, hemos establecido relaciones a largo plazo con numerosos proveedores que son capaces de fabricar obleas personalizadas para adaptarse a cualquier especificación única. Las obleas pulidas a doble cara están disponibles en silicona, vidrio y otros materiales comúnmente utilizados en la industria de los semiconductores.

Los dados y pulidos personalizados también están disponibles de acuerdo con sus requisitos. Siéntete libre de contactarnos.

 

Features características del producto

·          12 "tipo P / N, oblea de silicio pulido (25 piezas)

·          Orientación: 300

·          Resistividad: 0,1 - 40 ohm • cm (puede variar de un lote a otro)

·          Espesor: 775 +/- 20um

·          Prime / Monitor / Test Grade


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Consulta

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